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特 性

1.可做各处镀层（多层、合金、多层线）的精密测量。

2.除平板层形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。

3.可测量 0.01nm~300nm 的镀层。

4.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。

5.客队测量数据进行统计处理，以及和主机进行共同管理。

6.可制作非破坏式膜厚仪的标准板。

7.可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。

8.由微处理器进行计算、储存、思考。

9 本膜厚仪采用对话市操作。因此，只要依照测量条件来进行设定就可以测量情况。

10.由于可储存 64个不同的测量情况，所以有相同的测量情况时，不必再进行设定。每个测量条件可储存 9999 个数据。

11.最多可设定四层镀层，每层可进行统计处理。例如：测量条件、最大值、平均值、最小值、上下限值。直方图可进行计算并由列印机印出。

12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择，均可有微处理器自动判断、设定。

13.标准板校正值的计算和设定可自动进行。

14.测量数据可由通讯网路来传输，所以能和主机共同进行数据管理。

15.由于分解速度差距分的很细，因此可缩短测量时间。

16.可分离测量网（合金）上的锡（合金），镀层间的扩散（合金）层。

17.有表面活化性的功能，表面处理很容易。

18.我们独特的测量薹（专利）是利用条形式弹簧方式，所以操作简单。